home page   Электронный каталог РНТБ
[?]
  Базовый | Расширенный | Номера/Индексы | Булевский | По словарям | Новые поступления История  МОИ ЗАКАЗЫ    РЕГИСТРАЦИЯ

   Запрос: gasnti="29.19.19?"
   Записи: 1 - 16 из 16 (стр. 1 из 1)

Сортировать по: 
Дата Автор Заглавие
2003 Киселев, В. А. Экситонная спектроскопия приповерхностной области полупроводников / В.А. Киселев, Б.В. Новиков, А.Е. Чередниченко
2010   Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии : IX Международная конференция, Минск, 12-15 октября 2010 г. : сборник докладов / [редкол.: С. А. Чижик (председатель) и др.]
2011 Анищик, Виктор Михайлович (доктор физико-математических наук ; род. 1945) Дифракционный анализ : учебное пособие для студентов высших учебных заведений по специальности "Физика (по направлениям)" / В. М. Анищик, В. В. Понарядов, В. В. Углов
2012   Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии : X Международная конференция, Минск, 13—16 ноября 2012 г. : сборник докладов / [редколлегия: С. А. Чижик (председатель) и др.]
2014   Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии : сборник докладов XI Международной конференции, Минск, 21―24 октября 2014 г. / [редколлегия: С. А. Чижик (председатель) и др.]
2015 Сатдарова, Фаина Федоровна (кандидат физико-математических наук) Дифракционный анализ деформированных металлов : теория, методика, программное обеспечение : монография / Ф. Ф. Сатдарова
2016   Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии : сборник докладов XII Международной конференции, Минск, 18―21 октября 2016 г. / [редколлегия: С. А. Чижик (председатель) и др.]
2015   Математическое моделирование от междислокационных взаимодействий до макроскопической деформации : [монография / В. А. Старенченко и др.] ; под редакцией В. А. Старенченко ; Министерство образования и науки Российской Федерации, Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Томский государственный архитектурно-строительный университет"
2018   Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии : [БелСЗМ―2018] : XIII Международная конференция, Минск, 16—19 октября 2018 г. : сборник докладов / [редколлегия: С. А. Чижик (председатель) и др.]
1949 Пинскер, Зиновий Григорьевич (доктор физико-математических наук ; 1904—1986) Диффракция электронов / З. Г. Пинскер ; под редакцией и с предисловием А. А. Лебедева ; Академия наук СССР, Институт кристаллографии
1966 Гиллер, Яков Леопольдович Таблицы межплоскостных расстояний : в 2 т. / Я. Л. Гиллер
1966 Гиллер, Яков Леопольдович Таблицы межплоскостных расстояний : в 2 т. / Я. Л. Гиллер. — Т. 1: (Ванадиевый, хромовый, железный и кобальтовый аноды)
1966 Гиллер, Яков Леопольдович Таблицы межплоскостных расстояний : в 2 т. / Я. Л. Гиллер. — Т. 2: (Никелевый, медный, молибденовый и серебряный аноды)
1957 Пинес, Борис Яковлевич (доктор физико-математических наук ; 1905—1968) Лекции по структурному анализу : учебное пособие для университетов / Б. Я. Пинес
2022 Гитгарц, Михаил Ильич (доктор физико-математических наук ; 1927—) Субмикроскопическая структура и свойства дисперсионно-твердеющих сплавов с упругими межфазовыми деформациями : [монография] / М. И. Гитгарц, В. А. Кукареко, А. В. Толстой ; Национальная академия наук Беларуси, Объединенный институт машиностроения
2016   Наноструктурированные оксиды : [монография : С. В. Черепанова и др.] / под редакцией С. В. Цыбули ; Министерство образования и науки РФ, Новосибирский национальный исследовательский государственный университет
Записей на стр.